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日本日置 IM3536 LCR測(cè)試儀
日本日置 IM3536 LCR測(cè)試儀DC,4Hz~8MHz測(cè)量頻率,今后的標(biāo)桿產(chǎn)品
測(cè)量頻率DC,4Hz~8MHz
測(cè)量時(shí)間:*快1ms
基本精度:±0.05% rdg
1mΩ以上的精度保證范圍,也可安心進(jìn)行低阻測(cè)量
可內(nèi)部發(fā)生DC偏壓測(cè)量
從研發(fā)到生產(chǎn)線活躍在各種領(lǐng)域中
日本日置 IM3536 LCR測(cè)試儀主機(jī)不標(biāo)配測(cè)試治具。請(qǐng)?jiān)谶x件中選擇測(cè)試治具和探頭。
日本日置 IM3536 LCR測(cè)試儀
測(cè)量模式 |
LCR(單一條件下測(cè)量),連續(xù)測(cè)量(保存條件下連續(xù)測(cè)量) |
測(cè)量參數(shù) |
Z, Y, θ, X, G, B, Q, Rdc(直流電阻),Rs (ESR), Rp, Ls, Lp, Cs, Cp, D (tanδ), σ, ε |
測(cè)量量程 |
100 mΩ~100 MΩ, 10檔量程(所有參數(shù)由Z規(guī)定) |
顯示范圍 |
Z: 0.00 m~9.99999 GΩ, Y: 0.000 n~9.99999 GS, θ: ± (0.000°~999.999°), Q: ± (0.00~9999.99), Rdc: ± (0.00 m~9.99999 GΩ), D: ± (0.00000~9.99999), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)等 |
基本精度 |
Z: 0.05 % rdg. θ: 0.03°(代表值,精度保證范圍:1mΩ~200MΩ) |
測(cè)量頻率 |
4 Hz~8 MHz (10 mHz~100 Hz步進(jìn)) |
測(cè)量信號(hào)電平 |
[V模式,
CV模式]的[通常模式] |
DC偏壓 |
發(fā)生范圍:DC電壓0~2.50 V (低Z高精度模式時(shí)0 ~1 V) |
輸出阻抗 |
通常模式:100 Ω, 低Z高精度模式: 10 Ω |
顯示 |
彩色TFT5.7英寸,觸摸屏 |
功能 |
比較器、BIN測(cè)量(2個(gè)項(xiàng)目10種分類(lèi)),觸發(fā)功能、開(kāi)路·短路補(bǔ)償、接觸檢查、面板保存·讀取功能、存儲(chǔ)功能 |
接口 |
EXT I/O (處理器), /USB/U盤(pán)/LAN/GP-IB/RS-232C, BCD輸出 |
電源 |
AC 100~240 V, 50/60 Hz, 50 VA max |
體積及重量 |
330W × 119H × 230D mm, 4.2 kg |
附件 |
電源線×1,使用說(shuō)明書(shū)×1,CD-R(通訊說(shuō)明書(shū),LCR應(yīng)用光盤(pán))×1 |
日本日置 IM3536 LCR測(cè)試儀選配件
SMD測(cè)試治具IM9100
9263 直接連接型,底部有電極SMD用,DC~8MHz,可測(cè)量樣品尺寸:0402~1005(JIS)
4端子探頭9140-10
DC~200kH,50 Ω,1 m長(zhǎng)
測(cè)試治具9261-10
9263 線長(zhǎng)1m,DC~5MHz,特性阻抗50Ω,可測(cè)端口直徑:0.3~1.5mm
測(cè)試冶具 9262
DC~8 MHz, 直結(jié)型
SMD測(cè)試冶具 9263
9263 直接連接型, DC~5 MHz 測(cè)試尺寸: 1mm~10.0mm
DC偏置電壓?jiǎn)卧?9268-10
直接連接型,40Hz~8MHz,*大外加電壓DC±40V
DC偏置電流單元 9269-10
直接連接型,40Hz~2MHz,*大外加電流DC 2A(*大外加電壓DC±40V)
4端子探頭 9500-10
線長(zhǎng)1m,DC~200kHz,50Ω,可測(cè)導(dǎo)體直徑φ0.3mm~2mm
SMD測(cè)試治具9677
用于側(cè)面有電極的SMDDC~120MHz,測(cè)試樣品尺寸:3.5mm±0.5mm
SMD測(cè)試治具9699
用于底部有電極的SMDDC~120MHz,測(cè)試樣品尺寸:寬1.0~4.0mm,高1.5mm以下
前端探針I(yè)M9901
用于更換L2001的前端的通用尺寸,L2001標(biāo)配
前端探針I(yè)M9902
用于更換L2001的前端的小型尺寸


